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1
Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen
Springer-Verlag Berlin Heidelberg
Hans-Joachim Wunderlich (auth.)
schaltung
fehler
schaltungen
proc
bild
seiten
wahrscheinlichkeit
funktion
verfahren
conference
daher
muster
zahl
protest
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gütefunktion
herausgegeben
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falls
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automation
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lrs
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vlsi
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primären
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chip
läßt
stets
circuits
eingang
optimierung
tabelle
testing
selbsttest
testability
ausgang
erzeugt
fehlerentdeckungswahrscheinlichkeiten
redundanz
schaltnetze
Год:
1987
Язык:
german
Файл:
PDF, 3.95 MB
Ваши теги:
0
/
0
german, 1987
2
Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen
Vieweg+Teubner Verlag
Prof. Dr.-Ing. habil. Hans Wojtkowiak (auth.)
bild
schaltung
fehler
schaltungen
ausgang
testmuster
knoten
gatter
tabelle
bzw
funktion
wert
anzahl
eingang
eingänge
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abc
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eingängen
variablen
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tests
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logischen
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cco
läßt
funktionen
zunächst
belegung
dadurch
belegungen
gatters
maßnahmen
aufgaben
bestimmung
gilt
logische
scan
testmustern
aufgabe
aufwand
boolesche
testbarkeit
Год:
1988
Язык:
german
Файл:
PDF, 15.36 MB
Ваши теги:
0
/
0
german, 1988
3
Testverfahren in der Mikroelektronik: Methoden und Werkzeuge
Springer Berlin Heidelberg
Dr. -Ing. Wilfried Daehn (auth.)
,
Dr. -Ing. Wilfried Daehn (eds.)
abb
fehler
schaltung
schaltungen
wert
fiir
ausgang
gatter
automaten
zeigt
zahl
testmusterberechnung
berechnung
proc
simulation
gatters
fehlersimulation
knoten
beobachtbarkeit
testmuster
selbsttest
nieht
erfolgt
signal
maskierungswahrscheinlichkeit
eingangsmuster
gilt
polynom
wahrscheinlichkeit
fehlerfreien
tabelle
eingang
flip
zustand
integrierter
verfahren
daher
folgenden
kombinatorische
berechnet
cmos
einstellbarkeit
funktion
beispiel
daehn
entwurf
ergibt
erkannt
urn
werte
Год:
1997
Язык:
german
Файл:
PDF, 13.64 MB
Ваши теги:
0
/
0
german, 1997
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